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Finalizando a série de 3 vídeos sobre o multímetro analógico, nesse vídeo 3 você aprenderá, na prática, a medir transistor, tiristor e CI 431 na escala LV e sinais no borne OUTPUT.
Nos transistores em geral, é necessário realizar quatro testes: Junção, Fuga, ICEO e ganho (hFE).
Realizarei apenas os testes de fuga nas escalas ICEO e resistência.
1) Teste de Fuga na Escala ICEO:
Esse teste verifica se a junção do transistor bipolar está com seu valor de recombinação dentro da faixa estabelecida pelo fabricante.
Para o transistor bipolar TIP 122, esse valor de fuga deve ser de no máximo 0,5 mA, conforme indica o datasheet do fabricante.
2) Teste de Fuga na Escala de Resistência:
Esse teste verifica a corrente de fuga aplicando uma tensão de aproximadamente 12V na junção coletor/emissor do transistor. O resultado da corrente de fuga é exibido na escala de resistência do multímetro analógico.
Para os transistores, o valor da corrente de fuga deve ser maior que 1MΩ. Menor que esse valor, a corrente de fuga está alta e o transistor deve ser substituído.
Para testar a fuga ICEO do transistor bipolar TIP 122, proceda da seguinte maneira:
a) Selecione, na tabela de função, a escala X1 ou X10 .
b) Zere o instrumento através do potenciômetro de ajuste de zero Ohm.
c) Conecte uma ponta de prova no coletor e outra no emissor.
d) Observe onde a agulha parou e faça a leitura na escala ICEO (no fundo de escala).
e) Inverta as pontas de prova e observe novamente onde a agulha parou e faça a leitura na escala ICEO.
INTERPRETAÇÃO:
- Se a resposta de leitura indicar 0,5 mA no máximo, corrente de fuga está NORMAL e o transistor está em bom estado.
- Se a resposta de leitura indicar um valor acima de 0,5 mA a corrente de fuga está ALTERADA e o transistor precisa ser substituído.
- Se a resposta de leitura indicar valor infinito, a corrente de fuga está ÓTIMA, o que indica um transistor em perfeitas condições na junção coletor/emissor.
TESTE DE TIRISTORES COM MULTÍMETRO ANALÓGICO
Para verificar as condições das junções de um tiristor, é necessário realizar dois testes: o de junção e o de fuga. Neste vídeo, usaremos como exemplo de teste o tiristor TRIAC TIC 226M.
PROCEDIMENTOS PARA TESTE DE JUNÇÃO:
a) Selecione a escala X10;
b) Zere a escala;
c) Conecte uma ponta de prova no terminal Gate e outra no terminal MT1.
d) Observe onde a agulha parou e faça a leitura na escala LV (no fundo de escala).
e) Inverta as pontas de prova e observe novamente onde a agulha parou e faça a leitura na escala LV.
INTERPRETAÇÃO:
- Resposta de leitura entre 1,2V e 1, 4V = JUNÇÃO EM BOM ESTADO
- Resposta de leitura acima de 1,4V = JUNÇÃO ALTERADA
- Resposta de leitura infinita (em um ou nos dois sentidos = JUNÇÃO ABERTA
PROCEDIMENTOS PARA TESTE DE FUGA:
a) Selecione a escala X10k;
b) Zere a escala;
c) Conecte uma ponta de prova no terminal MT1 e outra no terminal MT2.
d) Observe onde a agulha parou e faça a leitura na escala de resistência (no fundo de escala).
e) Inverta as pontas de prova e observe novamente onde a agulha parou e faça a leitura na escala de resistência.
INTERPRETAÇÃO:
- Resposta de leitura acima de 1MΩ = JUNÇÃO EM BOM ESTADO
- Resposta de leitura abaixo de 1MΩ = JUNÇÃO ALTERADA
MEDIÇÃO DE SINAIS COM COMPONENTE CONTÍNUA
A medição de sinais com sua componente contínua é realizada através do borne OUTPUT. Nesse borne podemos medir sinais PWM, sinais com sua componente contínua e também ripple (flutuações) nos capacitores de filtro das fontes chaveadas.
Para verificar um sinal com sua componente DC em um circuito amplificador classe A, proceda da seguinte maneira:
a) Selecione a escala 10 VAC;
b) Conecte a ponta de prova no terra do circuito;
c) Conecte a outra ponta de prova na saída do circuito (coletor do transistor amplificador);
d) Observe onde a agulha parou e faça a leitura na escala de tensão 10VAC (no fundo de escala).
INTERPRETAÇÃO:
- Há valor de tensão na escala: SINAL + COMPONENTE CONTÍNUA ESTÁ PRESENTE;
- Não há valor de tensão na escala: SINAL + COMPONENTE CONTÍNUA ESTÁ AUSENTE;
Espero que ao final desse vídeo você tenha capacidade de analisar de forma profunda, utilizando o multímetro analógico, a junção de diodos semicondutores de diversos tipos.
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